用途： SS1-STD3 SunScan冠層分析系統是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。本系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作（但是建議是在接近中午的時候）。
特點：
·可測量冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）；
·可直接顯示葉面積指數（LAI）；
·陰天和晴天均可使用；
·理想的表型的應用程序。
技術參數：
Sunscan傳感器 | |
探測區(qū)域 | 長1米×寬13毫米，傳感器間距15.6毫米 |
光譜范圍 | 400~700nm（PAR） |
測量時間 | 120毫秒 |
最大讀數 | 2500 μmol.m-2.s-1 |
分辨率 | 0.3 μmol. m-2.s-1 |
線性 | 優(yōu)于1% |
精度 | ±10% |
模擬輸出 | 1mV/μmol. m-2.s-1 |
通訊端口 | RS232，9針D型接口 |
防護等級 | IP65 |
工作溫度 | 0~60℃ |
尺寸 | 1300×100×130毫米 |
重量 | 1.7公斤 |
供電 | 4節(jié)AA堿性電池，可以使用1年 |
掌上數據管理器 | |
顯示屏 | 1/4 VGA防日光顯示屏 |
操作系統 | Windows Mobile 6 |
顯示選項 | 葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、單個傳感器的讀數 |
防護等級 | IP67 |
工作溫度 | -30~+60℃ |
跌落高度 | 1.2米 |
供電 | 可充電電池，可連續(xù)使用12小時 |
內存 | >100MB可用 |
尺寸規(guī)格 | 165×95×45毫米 |
重量 | 450克 |
